74株式会社分析センター
株式会社分析センター（法人番号 9010001028642）
| 本社（本部） | 〒101-0061 東京都千代田区神田三崎町3-4-9 TEL 03-3265-1726 FAX 03-3265-1706 http://www.analysis.co.jp 交通アクセス JR 水道橋駅西口 徒歩2分 |
|---|---|
| 地方事業所（支所） |
第一技術研究所 交通アクセス
第二技術研究所 交通アクセス
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| 問い合わせ先 | 〒101-0061 東京都千代田区神田三崎町3-4-9 営業部 TEL 03-3265-1726 FAX 03-3265-1706 E-mail info@analysis.co.jp |
| 代表者名 | 代表取締役社長 佐藤 隆 |
| 資本金（基本金） | 50百万円 |
| 従業員 | 60人（うち、技術者45人) |
| 主な試験対象製品 | － |
| 原因究明を行う範囲 | 事故品が消失した場合であっても、事故同等品を入手して、製品、部品、材料等の性能・成分の試験をする他、現地調査や事故再現試験を行って、可能な限り総合的に判断する。 |
| 試験以外の対応 | 電話相談（無料） 技術的相談（原因究明をするにあたっての作業手順） 設備の貸し出し（一部貸出可） 現地調査（現場状況及び使用、設置環境の聞き取り等） その他（立会いによる試験） |
| 手数料規定 | あり |
| 調査依頼手続き・方法 |
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調査（究明）体制の受入
（Ａ：受入可能 Ｂ：条件付き受入 Ｃ：受入不可能 －：保留）
| 依頼者 利用目的 |
個人 (依頼弁護士を含む｡) |
企業 (依頼弁護士を含む｡) |
裁判外紛争 処理機関 |
地方自治体 | 国 | 裁判所 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 民事紛争処理 （相対交渉の判断材料から裁判における証拠）※ |
Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | |
| 行政の紛争処理 （行政が行う調停等） |
Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | |
| 裁判所からの鑑定依頼 | Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | |
| 行政からの依頼 （行政措置の実施等） |
Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | Ｂ | |
| Ｂの場合の条件：試験内容の条件等が明確になっていること。 | ||||||
| ※裁判の証拠としては調査の精度として保証できない場合等もある。（ケースバイケースである。） | ||||||
製品分野別の原因究明事例
| ［高分子材料／成形品］ | |
|---|---|
| 事故 内容 |
破損（割れ）,汚れ（付着物,変質）,変形,燃焼 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ,ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）,ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ），Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ），飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ） |
| ［繊維製品］ | |
| 事故 内容 |
破損,発熱,発火,ガス発生,燃焼 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,試験機（引張,曲げ,圧縮）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）,ガスクロマトグラフ質量分析 装置（ＧＣ／ＭＳ） |
| ［電気器具／電熱・電動機器具・電子機器・光源機器］ | |
| 事故 内容 |
発火,溶解・焼損,過熱,異常制御,破損,変形,汚れ（付着物） |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）,ガスクロマトグラフ質量分析 装置（ＧＣ／ＭＳ）,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,Ｘ線透過試験機,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,（ＩＣＰ－ＭＳ） |
| ［機械器具／製造装置,車両類］ | |
| 事故 内容 |
部品・エンジン・外装などの破損,折損,噴破,脱落,変形,腐食,汚れ |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,Ｘ線透過試験機,衝撃試験機,表面粗粗さ計 |
| ［機械器具／事務・サービス機器,縫製機器］ | |
| 事故 内容 |
破損,折損,脱落,変形,腐食,汚れ,作動不良 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,腐食試験機,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）, （ＩＣＰ－ＭＳ）,赤外分光分析装置（ＩＲ） |
| ［機械器具／精密・光学機器］ | |
| 事故 内容 |
破損,折損,脱落,変形,腐食,汚れ,作動不良 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,腐食試験機,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,オージェ電子分光分析装置（ＡＥＳ）,二次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ）,Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ）, 飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ） |
| ［機械器具／石油器具,ガス器具］ | |
| 事故 内容 |
異常燃焼,発火,給水（湯）不良,油漏れ,ガス漏れ,水漏れ,燃焼不良,破損,折損,変形,腐食,作動不良 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,腐食試験機,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ），（ＩＣＰ－ＭＳ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）,ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）,Ｘ線透過試験機,染色探傷装置,Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ），飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ） |
| ［住宅／家具・住宅用品・台所用品・ガスライター］ | |
| 事故 内容 |
変形,汚染,折損,腐食,変質,発火,焼損 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ,ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,腐食試験機,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,（ＩＣＰ－ＭＳ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）,ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ） |
| ［台所・家庭用品／石鹸・合成洗剤等・化粧品］ | |
| 事故 内容 |
破損,変色,異物混入 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）,ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,液体クロマトグラフ－飛行時間型質量分析計（ＬＣ－ＴＯＦ／ＭＳ） |
| ［文化・スポーツ用品／スポーツ・レジャー用品・装身具・子供用品］ | |
| 事故 内容 |
機器破損・折損,作動不良,性能異常,腐食,異物 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体,光学）,走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ）,機械試験機（引張,曲げ,圧縮,硬さ）,電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）, ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）,液体クロマトグラフ－飛行時間型質量分析計（ＬＣ－ＴＯＦ／ＭＳ） |
| ［石油製品］ | |
| 事故 内容 |
異常燃焼，発火，給水（湯）不良，油漏れ，ガス漏れ，水漏れ，燃焼不良，破損，折損，変形，腐食，作動不良 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体，光学）、走査系電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ），機械試験機（引張,曲げ,圧縮，硬さ），電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,腐食試験機,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,赤外分光分析装置（ＩＲ）, ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）,Ｘ線透過試験機,Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）,飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ） |
| ［医療器具］ | |
| 事故 内容 |
破損，折損，脱落，変形，腐食，汚れ，作動不良 |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体，光学）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ），試験機（引張,曲げ,圧縮，硬さ），電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,腐食試験機,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,オージェ電子分光分析装置（ＡＥＳ），二次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ）,Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ），飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ） |
| ［自動車・自動二輪］ | |
| 事故 内容 |
部品・エンジン・外装などの破損，折損，噴破，脱落，変形，腐食，汚れ |
| 使用原因 究明機器 |
顕微鏡（実体，光学）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ，ＦＥ－ＳＥＭ），機械試験機（引張,曲げ,圧縮，硬さ），電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）,蛍光Ｘ線分析装置（ＸＲＦ）,プラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ－ＡＥＳ）,Ｘ線回折装置（ＸＲＤ）,Ｘ線透過試験機,衝撃試験機,表面粗粗さ計 |
お問い合わせ
- 独立行政法人製品評価技術基盤機構 製品安全センター 製品安全広報課
-
TEL：06-6612-2066
FAX：06-6612-1617
住所：〒559-0034 大阪市住之江区南港北１－２２－１６ 地図
