製品安全

75株式会社分析センター

株式会社分析センター(法人番号 9010001028642)

基本情報
本社(本部) 〒101-0061  東京都千代田区三崎町3-4-9
TEL 03-3265-1726  FAX 03-3265-1706
http://www.analysis.co.jp
交通アクセス
JR 水道橋駅西口 徒歩2分
地方事業所(支所)

第一技術研究所
〒131-0032  東京都墨田区東向島1-12-2
TEL 03-3616-1612  FAX 03-3616-1615

交通アクセス

  • 東武鉄道 曳舟駅 徒歩8分
  • 京成電鉄 京成曳舟駅 徒歩10分

第二技術研究所
〒111-0034  東京都台東区雷門2-4-9 明祐ビル
TEL 03-5830-0330  FAX 03-5830-0331

交通アクセス

  • 都営浅草線 浅草駅 徒歩3分
  • 銀座線 浅草駅 徒歩5分
問い合わせ先 〒101-0061  東京都千代田区三崎町3-4-9
営業部
TEL 03-3265-1726  FAX 03-3265-1706
E-mail info@analysis.co.jp
代表者名 代表取締役社長  佐藤 隆
資本金(基本金) 50百万円
従業員 60人(うち、技術者45人)
主な試験対象製品
原因究明を行う範囲 事故品が消失した場合であっても、事故同等品を入手して、製品、部品、材料等の性能・成分の試験をする他、現地調査や事故再現試験を行って、可能な限り総合的に判断する。
試験以外の対応 電話相談(無料)
技術的相談(原因究明をするにあたっての作業手順)
設備の貸し出し(一部貸出可)
現地調査(現場状況及び使用、設置環境の聞き取り等)
その他(立会いによる試験)
手数料規定 あり
調査依頼手続き・方法
  1. 1.調査依頼の連絡を受ける
  2. 2.依頼内容に関し依頼主と打合せる
  3. 3.調査依頼書の作成
  4. 4.調査依頼内容の依頼主への確認
  5. 5.調査依頼の受諾
  6. 6.調査依頼の手続き完了

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調査(究明)体制の受入

(A:受入可能  B:条件付き受入  C:受入不可能  -:保留)

依頼者
利用目的
個人
(依頼弁護士を含む。)
企業
(依頼弁護士を含む。)
裁判外紛争
処理機関
地方自治体 裁判所
民事紛争処理
(相対交渉の判断材料から裁判における証拠)※
     
行政の紛争処理
(行政が行う調停等)
 
裁判所からの鑑定依頼          
行政からの依頼
(行政措置の実施等)
       
Bの場合の条件:試験内容の条件等が明確になっていること。
※裁判の証拠としては調査の精度として保証できない場合等もある。(ケースバイケースである。)

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製品分野別の原因究明事例

[高分子材料/成形品]
事故
内容
破損(割れ),汚れ(付着物,変質),変形,燃焼
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学)走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧 縮)電子線マイクロアナライザ(EPMA),示差熱分析装置(TG/DTA, DSC,TMA),赤外分光分析装置(IR),ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)
[繊維製品]
事故
内容
破損,発熱,発火,ガス発生,燃焼
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),試験機(引張,曲げ,圧縮),電子線マイクロアナライザ(EPMA),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),赤外分光分析装置(IR),ガスクロマトグラフ質量分析 装置(GC/MS)
[電気器具/電熱・電動機器具・電子機器・光源機器]
事故
内容
発火,溶解・焼損,過熱,異常制御,破損,変形,汚れ(付着物)
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧縮),電子線マイクロアナライザ(EPMA),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),赤外分光分析装置(IR),ガスクロマトグラフ質量分析 装置(GC/MS),X線回折装置(XRD),X線透過試験機,蛍光X線分析装置(XRF),プラズマ発光分光分析装置(ICP)
[機械器具/製造装置,車両類]
事故
内容
部品・エンジン・外装などの破損,折損,噴破,脱落,変形,腐食,汚れ
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧縮),電子線マイクロアナライザ(EPMA),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),蛍光X線分析装置(XRF),プラズマ発光分光分析装置(ICP),X線回折装置(XRD),X線透過試験機,衝撃試験機,表面粗粗さ計,腐食試験機,ポテンシオメータ
[機械器具/事務・サービス機器,縫製機器]
事故
内容
破損,折損,脱落,変形,腐食,汚れ,作動不良
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧縮),電子線マイクロアナライザ(EPMA),X線回折装置(XRD),腐食試験機,プラズマ発光分光分析装置(ICP),赤外分光分析装置(IR)
[機械器具/精密・光学機器]
事故
内容
破損,折損,脱落,変形,腐食,汚れ,作動不良
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),試験機(引張,曲げ,圧縮),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),電子線マイクロアナラ イザ(EPMA),腐食試験機,X線回折装置(XRD),蛍光X線分析装置(XRF),プラズマ発光分光分析装置(ICP),オージェ電子分光分析装置(AES),二次イオン質量分析装置(SIMS),X線光電子分光分析装置(XPS)
[機械器具/石油器具,ガス器具]
事故
内容
異常燃焼,発火,給水(湯)不良,油漏れ,ガス漏れ,水漏れ,燃焼不良,破損,折  損,変形,腐食,作動不良
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧縮),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),電子線マイクロアナライザ(EPMA),腐食試験機,X線回折装置(XRD),蛍光X線分析装置(XRF),プラズマ発光分光分析装置(ICP),赤外分光分析装置(IR),ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS),マノメータ,X線透過試験機,染色探傷装置
[住宅/家具・住宅用品・台所用品・ガスライター]
事故
内容
変形,汚染,折損,腐食,変質,発火,焼損
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧縮),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),電子線マイクロアナライザ(EPMA),腐食試験機,X線回折装置(XRD),蛍光X線分析装置(XRF),プラズマ発光分光分析装置(ICP),赤外分光分析装置(IR),ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)
[台所・家庭用品/石鹸・合成洗剤等・化粧品]
事故
内容
皮膚障害(炎症),破損,変色,異物混入
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),赤外分光分析装置(IR),ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS),電子線マイクロアナライザ(EPMA),X線回折装置(XRD),示差熱分析装置(TG/DTA, DSC,TMA)
[文化・スポーツ用品/スポーツ・レジャー用品・装身具・子供用品]
事故
内容
機器破損・折損,作動不良,性能異常,腐食,異物・突起物によるケガ,皮膚障害(かぶれ等)
使用原因
究明機器
顕微鏡(実体,光学),走査型電子顕微鏡(SEM),機械試験機(引張,曲げ,圧縮),示差熱分析装置(TG/DTA,DSC,TMA),電子線マイクロアナライザ(EPMA),腐食試験機,X線回折装置(XRD),蛍光X線分析装置(XRF),プラズマ発光分光分析装置(ICP),赤外分光分析装置(IR), ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS),マイクロメータ,ノギス

お問い合わせ

独立行政法人製品評価技術基盤機構 製品安全センター  リスク評価広報課
TEL:06-6612-2066  FAX:06-6612-1617
住所:〒559-0034 大阪市住之江区南港北1-22-16 地図