82株式会社クオルテック
株式会社クオルテック（法人番号5120101021226）
| 本社（本部） | 〒590-0906 大阪府堺市堺区三宝町4丁231-1 TEL : 072-226-7175 / FAX : 072-226-7176 |
|---|---|
| 地方事業所（支所） |
本社・分析センター |
| 問い合わせ先 | 〒590-0906 大阪府堺市堺区三宝町4丁231-1 TEL : 072-226-7175 / FAX : 072-226-7176 |
| 代表者名 | 代表取締役 志方 廣一 |
| 資本金（基本金） | １億円 |
| 従業員 | 210人 |
| 主な試験対象製品 | 電気電子部品、電気電子機器、半導体素子のパワーサイクル試験、各種金属、非鉄金属、有機物、ゴム・樹脂・複合材料などの材料、部品、製品の各種材料試験（機械的特性試験、破壊試験、各種腐食試験、成分分析）、機械部品、機械装置、高分子材料・成形品、成形製品、微細構造解析、元素解析、表面分析、形態観察、非破壊検査、電子部品の故障解析、振動試験、再現実験、住宅用品、住宅機器、食品 |
| 原因究明を行う範囲 | 各種分野の当社保有の評価・分析技術により、総合的に原因究明のための評価および解析を行う。 |
| 試験以外の対応 | 電話相談（無料） 技術的相談（各種調査、試験結果に基づき事故原因の総合的な究明と評価を行う） 現地調査（専門家派遣） |
| 他の機関との連携体制 | あり（試験・分析関連の同業他社、研究機関、協会等） |
| 手数料規定 | あり |
| 調査依頼手続き・方法 |
|
調査（究明）体制の受入
（Ａ：受入可能 Ｂ：条件付き受入 Ｃ：受入不可能 －：保留）
| 依頼者 利用目的 |
個人 (依頼弁護士を含む｡) |
企業 (依頼弁護士を含む｡) |
裁判外紛争 処理機関 |
地方自治体 | 国 | 裁判所 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 民事紛争処理 （相対交渉の判断材料から裁判における証拠）※ |
Ｂ１，２ | Ｂ１，２ | Ｂ１，２ | |||
| 行政の紛争処理 （行政が行う調停等） |
Ｂ３ | Ｂ３ | Ｂ３ | Ｂ３ | Ｂ３ | |
| 裁判所からの鑑定依頼 | Ｂ１，２ | |||||
| 行政からの依頼 （行政措置の実施等） |
Ｂ３ | Ｂ３ | ||||
| Ｂの場合の条件 Ｂ１：一次処理機関（消費者センター等）で受付等されていること。 Ｂ２：試験内容の条件等が明確になっていること。 Ｂ３：行政の公的機関関係以外のもの受付可能 |
||||||
| ※裁判の証拠として利用できる。（利用を想定している。） | ||||||
製品分野別の原因究明事例
| ［機械器具／機械・電気部品、部材］ | |
|---|---|
| 事故 内容 |
性能異常、異常動作、発火、焼損、溶融、過熱、漏電・感電、腐食、発錆、材料劣化、破損、折損 |
| 使用原因 究明機器 |
X線リフローシミュレーター、エネルギー分散型X線分光器（EDS)、オージェ電子分光法（AES）装置、電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM)、プラズマFIB-SEM装置、ロックイン発熱解析装置、走査型プローブ顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、電子線後方散乱回折（EBSD）装置、集束イオンビーム(FIB)加工装置、Ｘ線CTスキャン装置、X線透視観察装置、超音波顕微鏡、ウィスカ・マイグレーション試験機、液槽式冷熱衝撃試験装置、熱衝撃試験機、急速温度変化チャンバー、恒温恒湿槽、結露サイクル試験装置、サーモマイグレーション（TM）試験器、はんだぬれ性試験装置、複合振動試験機、プレッシャークッカー、引き剥がし試験器、引張圧縮試験機、塩水噴霧試験機、卓上形精密万能試験機（オートグラフ）、マイクロスコープレーザ顕微鏡、ワンショット3D形状測定機、金属顕微鏡、実体顕微鏡、ホットオイル試験機、高周波ノイズ可視化装置、真空リフロー装置、反り・変形計測システム、YAGレーザ加工装置、UV-YAGレーザ加工装置、フェムト秒レーザ加工装置、レーザ開封機、クライオCP（クロスセクションポリッシャ）装置、ミクロトーム、リフロー装置、ワイヤボンディング装置、超音波切断機、熱間埋め込み加圧処理装置 |
| ［高分子材料・成形品／成形製品］ | |
| 事故 内容 |
外観、割れ、破損、変色、変退色、付着物、燃焼、耐熱性、耐寒性、耐油性、透湿性、材料劣化 |
| 使用原因 究明機器 |
ガスクロマトグラフ（GC-MS）、電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM)、フーリエ変換－赤外分光（FT-IR)装置、液体クロマトグラフ／タンデム質量分析装置(LC-MS/MS)、走査型プローブ顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、電子線後方散乱回折（EBSD）装置、X線透視観察装置、超音波顕微鏡、液槽式冷熱衝撃試験装置、キセノンウェザーメーター、スーパーUVテスター、複合振動試験機、プレッシャークッカー、急速温度変化チャンバー、恒温恒湿槽、熱衝撃試験機、マイクロスコープ、レーザ顕微鏡、実体顕微鏡、µmスケール反り計測機、記録温度計、紫外可視分光光度計、ホットオイル試験機、反り・変形計測システム、マイクロビッカース、CO2レーザ加工装置、YAGレーザ加工装置、UV-YAGレーザ加工装置、フェムト秒レーザ加工装置、クライオCP（クロスセクションポリッシャ）装置、ミクロトーム、冷間CP（クロスセクションポリッシャ）加工装置、超音波切断機 |
| ［自動車・自動二輪／電装機器、電装部品］ | |
| 事故 内容 |
異常動作、焼損、溶融、異常制御、過熱、漏電・感電、発錆、腐食、外装破損、変色、変形、折損、脱落 |
| 使用原因 究明機器 |
X線透視観察装置、Ｘ線CTスキャン装置、超音波顕微鏡、ウィスカ・マイグレーション試験機、液槽式冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験装置、恒温恒湿槽、キセノンウェザーメーター、結露サイクル試験装置、スーパーUVテスター、複合振動試験機、マイクロスコープ、実体顕微鏡、オシロスコープ、記録温度計、サーモビュアーカメラ、ホットオイル試験機、高周波ノイズ可視化装置、塵埃試験装置 |
| ［住宅・家具／住宅用品、住宅機器］ | |
| 事故 内容 |
|
| 使用原因 究明機器 |
ガスクロマトグラフ（GC-MS）、電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM)、フーリエ変換－赤外分光（FT-IR)装置、液体クロマトグラフ／タンデム質量分析装置(LC-MS/MS)、走査型プローブ顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、電子線後方散乱回折（EBSD）装置、X線透視観察装置、超音波顕微鏡、液槽式冷熱衝撃試験装置、キセノンウェザーメーター、スーパーUVテスター、複合振動試験機、プレッシャークッカー、急速温度変化チャンバー、恒温恒湿槽、熱衝撃試験機、マイクロスコープ、レーザ顕微鏡、実体顕微鏡、µmスケール反り計測機、マイクロビッカース、記録温度計、紫外可視分光光度計、ホットオイル試験機、反り・変形計測システム、CO2レーザ加工装置、YAGレーザ加工装置、UV-YAGレーザ加工装置、フェムト秒レーザ加工装置、クライオCP（クロスセクションポリッシャ）装置、ミクロトーム、冷間CP（クロスセクションポリッシャ）加工装置、超音波切断機 |
| ［石油製品／石油機器］ | |
| 事故 内容 |
耐熱性、耐油性、耐寒性、過熱破損、溶融、折損、変形、腐食、動作不良、制御異常 |
| 使用原因 究明機器 |
ガスクロマトグラフ（GC-MS）、電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM)、フーリエ変換－赤外分光（FT-IR)装置、ロックイン発熱解析装置、液体クロマトグラフ／タンデム質量分析装置(LC-MS/MS)、Ｘ線CTスキャン装置、X線透視観察装置、超音波顕微鏡、液槽式冷熱衝撃試験装置、急速温度変化チャンバー、恒温恒湿槽、熱衝撃試験機、プレッシャークッカー、キセノンウェザーメーター、結露サイクル試験装置、スーパーUVテスター、複合振動試験機、塩水噴霧試験機、マイクロスコープ、実体顕微鏡、記録温度計、ホットオイル試験機、CO2レーザ加工装置、超音波切断機 |
| ［台所・家庭用品／食品、パッケージ］ | |
| 事故 内容 |
成分分析、材質、外観、割れ・破損、変形、耐熱性、耐冷性、透湿性、有害物質、アレルゲン物質分析、DNA抽出 |
| 使用原因 究明機器 |
エライザ（ELISA）装置、分光光度計、ガスクロマトグラフ（GC-MS）、フーリエ変換－赤外分光（FT-IR)装置、液体クロマトグラフ／タンデム質量分析装置(LC-MS/MS)、走査型プローブ顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、電子線後方散乱回折（EBSD）装置、恒温恒湿槽、マイクロスコープ、実体顕微鏡 |
| ［電気器具／電子機器］ | |
| 事故 内容 |
発火、焼損、溶融、過熱、異常制御、漏電・感電、破損、変形、劣化、寿命、耐熱性、誤動作、実装不良 |
| 使用原因 究明機器 |
X線リフローシミュレーター、ロックイン発熱解析装置、集束イオンビーム(FIB)加工装置、Ｘ線CTスキャン装置、X線透視観察装置、超音波顕微鏡、ウィスカ・マイグレーション試験機、結露サイクル試験装置、恒温恒湿槽、急速温度変化チャンバー、熱衝撃試験機、スーパーUVテスター、はんだぬれ性試験装置、複合振動試験機、マイクロビッカース、塩水噴霧試験機、曲げ試験機、卓上形精密万能試験機（オートグラフ）、マイクロスコープ、金属顕微鏡、実体顕微鏡、µmスケール反り計測機、FPC耐屈曲試験機、オシロスコープ、記録温度計、サーモビュアーカメラ、シールド室、ネットワークアナライザ、ロジックアナライザー、高周波ノイズ可視化装置、真空リフロー装置、塵埃試験装置、CO2レーザ加工装置、YAGレーザ加工装置、UV-YAGレーザ加工装置、クライオCP（クロスセクションポリッシャ）装置、スポットヒーター、リフロー装置 |
| ［電気器具／電気機器］ | |
| 事故 内容 |
発火、焼損、溶融、過熱、異常制御、漏電・感電、破損、変形、劣化、寿命、耐熱性、誤動作、実装不良 |
| 使用原因 究明機器 |
ロックイン発熱解析装置、Ｘ線CTスキャン装置、X線透視観察装置、超音波顕微鏡、結露サイクル試験装置、スーパーUVテスター、複合振動試験機、塩水噴霧試験機、急速温度変化チャンバー、恒温恒湿槽、マイクロスコープ、金属顕微鏡、実体顕微鏡、オシロスコープ、記録温度計、サーモビュアーカメラ、シールド室、真空リフロー装置、塵埃試験装置、CO2レーザ加工装置、リフロー装置 |
| ［電気器具／半導体部品］ | |
| 事故 内容 |
誤動作、静電破壊、耐圧破壊、実装不良、剥離、過熱、焼損、外観、割れ、破損、燃焼、寿命 |
| 使用原因 究明機器 |
X線光電子分光法（XPS）装置、エネルギー分散型X線分光器（EDS)、オージェ電子分光法（AES）装置、電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM)、プラズマFIB-SEM装置、ロックイン発熱解析装置、走査型プローブ顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、電子線後方散乱回折（EBSD）装置、集束イオンビーム(FIB)加工装置、Ｘ線CTスキャン装置、超音波顕微鏡、アバランシェ試験機、ウィスカ・マイグレーション試験機、液槽式冷熱衝撃試験装置、プレッシャークッカー、サーモマイグレーション（TM）試験器、パワーサイクル試験機、複合振動試験機、引き剥がし試験器、引張圧縮試験機、恒温恒湿槽、酸化膜破壊（TDDB）試験器、熱衝撃試験機、マイクロスコープ、レーザ顕微鏡、ワンショット3D形状測定機、金属顕微鏡、実体顕微鏡、オシロスコープ、カーブトレーサ、光電子分光光度計、サーモビュアーカメラ、ホットオイル試験機、真空リフロー装置、YAGレーザ加工装置、UV-YAGレーザ加工装置、レーザ開封機、クライオCP（クロスセクションポリッシャ）装置、ミクロトーム、リフロー装置、ワイヤボンディング装置 |
| ［電気器具／表示機器］ | |
| 事故 内容 |
誤動作、表示異常、静電破壊、耐圧破壊、腐食、耐湿、実装不良、過熱、焼損、耐熱性、高温高湿性能、劣化、寿命 |
| 使用原因 究明機器 |
電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM)、プラズマFIB-SEM装置、ロックイン発熱解析装置、走査型プローブ顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、走査型透過電子顕微鏡（STEM）、電子線後方散乱回折（EBSD）装置、集束イオンビーム(FIB)加工装置、キセノンウェザーメーター、結露サイクル試験装置、急速温度変化チャンバー、スーパーUVテスター、複合振動試験機、引き剥がし試験器、引張圧縮試験機、曲げ試験機、恒温恒湿槽、熱衝撃試験機、マイクロスコープ、レーザ顕微鏡、超音波顕微鏡、ワンショット3D形状測定機、金属顕微鏡、実体顕微鏡、FPC耐屈曲試験機、オシロスコープ、記録温度計、シールド室、紫外可視分光光度計、ネットワークアナライザ、分光蛍光光度計、蛍光X線膜厚測定装置、顕微分光膜厚計、高周波ノイズ可視化装置、側色色差色度計、反り・変形計測システム、分光光度計、YAGレーザ加工装置、UV-YAGレーザ加工装置、クライオCP（クロスセクションポリッシャ）装置、スポットヒーター、ワイヤボンディング装置、超音波切断機、冷間CP（クロスセクションポリッシャ）加工装置 |
お問い合わせ
- 独立行政法人製品評価技術基盤機構 製品安全センター 製品安全広報課
-
TEL：06-6612-2066
FAX：06-6612-1617
住所：〒559-0034 大阪市住之江区南港北１－２２－１６ 地図
